Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology niet bekend

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
€180,95

Deze titel is momenteel niet te bestellen.

Specificaties

ISBN
9780735404410
Uitgever
American Institute of Physics
Druk
1e
Verschenen
01-01-2007
Taal
Engels
Bladzijden
592 pp.
Bindwijze
Hardcover

Delen op

Meer op Athenaeum.nl over boeken

Koop uw boeken bij Athenaeum

  • Gratis verzending vanaf € 20,- (in de algemene webwinkel, binnen Nederland).
  • Vertrouwde service, veilige afhandeling
MINDBOOKSATH : athenaeum