Kelvin Probe Force Microscopy

Kelvin Probe Force Microscopy Measuring and Compensating Electrostatic Forces niet bekend

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction i

Niet leverbaar

Deze titel is (nog) niet op voorraad.

Specificaties

ISBN
9783642225659
Uitgever
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Druk
1e
Verschenen
01-01-2011
Taal
Engels
Bladzijden
334 pp.
Bindwijze
Hardcover
Genre
Nederlandstalige literatuur

Delen op

Meer op Athenaeum.nl over boeken

Koop uw boeken bij Athenaeum

  • Gratis verzending vanaf € 20,- (in de algemene webwinkel, binnen Nederland).
  • Bestellen zonder registratie of login.
  • Vertrouwde service, veilige afhandeling.
MINDBOOKSATH : athenaeum