Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments Hui Xie ; Cagdas Onal ; Stephane Regnier ; Metin Sitti

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nano
€196,45

Levertijd: 5 tot 10 werkdagen.

Specificaties

ISBN
9783642203282
Uitgever
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Druk
1e
Verschenen
01-01-2011
Taal
Engels
Bladzijden
344 pp.
Bindwijze
Hardcover
Genre
Nederlandstalige literatuur

Delen op

Meer op Athenaeum.nl over boeken

Koop uw boeken bij Athenaeum

  • Gratis verzending vanaf € 20,- (in de algemene webwinkel, binnen Nederland).
  • Bestellen zonder registratie of login.
  • Vertrouwde service, veilige afhandeling.
MINDBOOKSATH : athenaeum